제품소개광측정장비
높은 정확도: ±0.2 ppm
이 시리즈에는 두 가지 모델이 있습니다. 높은 정확도 AQ6151B 모델은 가장 까다로운 정밀도 요구 사항을 충족하기 위해 ±0.2 ppm의 정확도를 제공합니다. 표준 정확도 AQ6150B는 요구 사항이 적은 애플리케이션에 대해 보다 저렴한 가격으로 ±0.7ppm의 정확도를 제공합니다. 실시간 보정 기능은 내장 파장 기준 광원의 매우 안정적인 기준 신호를 사용하여 각 측정 및 모든 측정에 대해 장기적인 안정성을 제공합니다.
CW, 변조된 트랜시버 및 광 필터 측정
광 트랜스시버 및 광 전송 시스템의 광 출력은 10 Gbps 및 25 Gbps를 포함한 전송 주파수로 변조됩니다. 변조된 신호에 의해 확장된 스펙트럼을 측정하려면 FFT 기법을 사용하는 내장 광 스펙트럼 분석 기능이 필요합니다. 일반 CW 조명 모드 외에도 AQ6150B 시리즈에는 변조된 조명 모드가 있습니다. 변조 모드는 광 스펙트럼을 분석하여 변조된 빛의 중심 파장을 검색합니다. 이 모드는 밴드 패스 필터, AWG 및 WSS와 같은 광학 필터의 중앙 파장 측정에 사용할 수도 있습니다.
최대 1024파장 동시 측정
AQ6150B 시리즈는 단일 입력 신호에서 최대 1024개의 파장을 동시에, 빠르고 정확하게 측정할 수 있습니다. 즉, 현재와 미래의 WDM 전송 시스템 개발 및 생산에 필요한 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 다중 파장 측정 기능은 광학 연결기를 사용하여 여러 개의 레이저 모듈 또는 광 트랜스시버를 결합하고 모든 신호를 한 번에 측정함으로써 단일 파장 레이저 장치의 생산 효율과 비용 절감에도 기여합니다.
낮은 파워의 입력 신호에서도 고성능 제공
AGC(Auto Gain Control) 기능이 장착된 AQ6150B Series는 입력 신호 전력에 따라 전기 앰프의 게인을 자동으로 조정합니다. 이렇게 하면 입력 신호 전력이 -40dBm까지 낮더라도 파장의 정확도와 측정 속도를 극대화할 수 있습니다.
고속 측정을 통해 처리량 향상
장치당 수백 개의 파장 측정이 필요한 조정 가능한 레이저 소스와 조정 가능한 광 트랜스시버의 조정 및 특성화에 있어 고속 측정 및 처리 능력은 생산 처리량을 향상시키는 데 매우 중요합니다.두 모델 모두 0.2초 이내에 측정값을 PC에 수집, 분석 및 전송할 수 있습니다. 이는 AQ6150B 또는 AQ6151B 모델보다 2배 빠른 속도이므로 생산 처리량이 크게 향상됩니다. Repeat 측정 모드에서 AQ6150B 시리즈는 초당 10개의 측정치를 수집할 수 있으므로 실시간으로 파장을 모니터링 하면서 장치를 조정할 때 매우 유용합니다.
테스트 시스템을 쉽게 업그레이드
원격 제어 인터페이스(ETHERNET 또는 GP-IB)를 사용하여 자동 측정 시스템을 쉽게 구축할 수 있습니다.원격 명령 집합은 프로그래밍 가능한 계측기에 대해 일반적으로 허용되는 SCPI 산업 표준 명령 집합을 준수합니다. 따라서, 요꼬가와 AQ6140 시리즈나 다른 SCPI 호환 광파장 측정기가 이미 사용 중일 경우 측정 프로그램을 변경하지 않고도 기존 측정 시스템을 쉽게 업그레이드할 수 있습니다.
전체 수명 및 비용 절감
기존의 파장 미터로, 높은 파장 기준 광원의 고장율과 높은 교체 비용은 다운타임 자체에서 발생하는 비용은 말할 것도 없고 제품 수명 주기 동안 전체 소유 비용에 큰 기여를 했습니다.제품 설계의 주요 목표 중 하나는 이러한 문제를 최대한 해결하고 완화하는 것입니다. 아래 구성에서 그래픽으로 나타낸 다차원적 접근 방식으로 이 목표를 달성했습니다.
- 광원의 일반적인 수명(MTBF)을 확장합니다(수평 스케일 최대화).
- 교체 비용을 절감합니다(수직 스케일 최소화).
사용자 친화적 인터페이스
USB 포트
- USB 호환 데이터 저장 장치, 마우스 및 키보드
- 파일 기능을 사용하면 테스트 보고서를 작성할 때 사용할 데이터 및 스크린샷을 내장 메모리 또는 USB 스토리지에 저장할 수 있습니다. 스크린샷은 전면 패널에 있는 인쇄 화면 버튼(PRT SCN)을 눌러도 저장할 수 있습니다.
시인성 높은 밝은 색상의 LCD
- AQ6150B 시리즈 화면 디자인과 직관성은 요꼬가와의 베스트셀러 광학 스펙트럼 분석기에서 물려받은 것입니다.
- 이 인터페이스는 제조 분야의 R&D 테스트 및 문제 해결과 같은 분야에서 전 세계적인 규모의 광범위한 사용자들에 의해 입증되었습니다.
LAN을 통한 데이터 액세스
표준 LAN 포트를 사용하면 내장 메모리에 저장된 파일에 편리하게 액세스할 수 있을 뿐 아니라 PC에서 펌웨어를 원격으로 업데이트할 수 있습니다.
마우스 사용
- USB 마우스를 사용하면 측정 조건을 쉽고 직관적으로 변경하고, 분석을 실행하며, 광 스펙트럼 뷰를 수정할 수 있습니다.
- 광학 스펙트럼 보기에서는 파형 보기 영역을 클릭과 드래그만으로 확대/축소하고 이동할 수 있습니다. 피크 검출을 위한 임계값인 피크 임계값 선도 동일한 방식으로 이동할 수 있습니다.
기능
| 항목 | 기능 |
|---|---|
| 측정 | 싱글, 반복, 평균, 드리프트, 데이터 로깅 |
| 측정 조건 설정 | 평균 카운트, 공기/진공 파장, 디바이스 타입 (CQ/변조), 측정 레인지 |
| 디스플레이 | 단일 파장, 다중 파장, 델타, 그리드, 스펙트럼, 파장 축 단위, 광 파워 단위, 중심 파장, 전체 파워, 마커, 라벨, 파워 바, 경고 메시지, 에러 메시지, 시스템 정보 |
| 데이터 분석 | 피크 검색, FP-LD 분석, 드리프트 분석, WDM(OSNR) 분석 |
| 파일 | 측정 결과 (CSV) 저장/불러오기, 파라미터(바이너리) 저장/불러오기, 스크린 이미지 저장 |
| 원격 제어 | GPIB/이더넷 인터페이스, TCP/IP, 원격 모니터 |
| 기타 | 내부 레퍼런스 광원 On/Off, 내부 레퍼런스 광원 상태 LED, 광파워 오프셋, 파라미터 초기화, 펌웨어 업데이트 |
다양한 보기 모드
단일 파장 모드
단일 파장 모드는 읽기 쉬운 큰 숫자를 사용하여 최고 피크 또는 임의 피크의 파장과 전력을 표시합니다. 이렇게 하면 장치가 테스트 스탠드 상단에 배치되어 있더라도 값을 쉽게 읽을 수 있습니다.
다중 파장 모드
다중 파형 모드에서는 최대 피크의 파장과 전력 또는 임의 피크의 파장과 전력 목록이 목록 맨 위에 표시됩니다. 화면에 표시되는 채널 수를 최대화하기 위해 목록만 표시하는 모드도 있습니다.델타 파장 모드
델타 파형 모드는 기준 피크와 다른 피크의 차이를 파장과 전력 측면에서 계산하고 표시합니다. 이 모드는 피크 간격을 결정하는 데 도움이 됩니다.
다양한 측정 단위
다음 측정 단위 중 선택할 수 있습니다.
- 파장: 파장(nm), 주파수(THz), 파형 번호(cm-1)
- 파워: dBm, mW, μW
그리드 모드
설정된 그리드 파장과 설정된 그리드 파장을 중심으로 설정된 검색 영역 내에 있는 측정된 파장 사이의 편차를 표시합니다.
광 스펙트럼 보기
AQ6150B 시리즈는 FFT(Fast Fourier Transform) 알고리즘에서 얻은 광 스펙트럼 파형을 표시할 수 있습니다. 테스트 조건을 결정하고 실제 스펙트럼을 확인하는 동안 측정 오류를 해결할 수 있습니다. 목록에서 피크를 선택하면 피크가 자동으로 광 스펙트럼 보기의 중심으로 이동하여 보기 쉽고 편리합니다.효율적인 측정 과 분석 기능
AQ6150 시리즈는 자동 측정 및 분석 기능을 갖추고 있습니다. 이러한 기능은 원격 제어 및 분석 프로그램을 생성/검증하는 데 귀중한 시간과 리소스를 절약합니다.
드리프트 분석
드리프트 분석은 측정을 반복하여 시간에 따른 각 피크의 파장과 전력 변화를 측정합니다. 최대값(MAX), 최소값(MIN) 및 변동(MAX-MIN)을 가져옵니다. 이 기능은 장기 안정성 테스트와 레이저의 온도 의존성 평가에 유용합니다.
Fabry-Perot 레이저 분석
Fabry-Perot 레이저의 평가 파라미터는 측정된 광학 스펙트럼에서 즉시 분석 및 표시할 수 있습니다.결과에는 중심 파장, 총 전력, 스펙트럼 폭(FWHM), 모드 간격 등이 포함됩니다.
평균 측정
평균 측정은 측정을 반복하여 각 피크의 평균 파장과 전력을 얻습니다. 이 기능은 변조된 신호 또는 불안정한 신호에 대한 측정의 불확실성을 줄이는 데 도움이 됩니다.
데이터 로깅 기능
채널당 최대 100001 포인트의 측정 데이터를 표 또는 그래프 형식으로 저장하고 표시할 수 있습니다. 장기 안정성 테스트와 온도 주기 테스트를 용이하게 합니다.어플리케이션
WDM 전송 시스템
현재 및 차세대 통신 네트워크의 엄격한 요구를 충족시키기 위해, 개발자들은 전송 시스템의 효율성과 용량을 향상시켜야 하는 과제를 끊임없이 안고 있습니다. 이러한 과제에 대응하여, 정교한 변조 방식을 이용한 채널 간격 최소화, 채널 수 및 전송 속도 극대화 등 다양한 기법이 개발되었습니다.
WDM 트랜스미션 시스템 테스트에서 레이저 모듈 및 광 트랜스시버와 같은 시스템 내부 회로 기판과 시스템의 최종 출력 신호를 테스트하려면 높은 파장 정확도가 필요합니다. 여기에는 다음이 포함될 수 있습니다.
- 다채널과 좁은 간격의 WDM 시스템을 동시에 측정합니다.
- 레이저 소스의 정확한 조정 및 검사 • 변조된 신호의 측정입니다.
테스트 시스템 교정
AQ6150B 시리즈의 높은 정확도로 인해 다음을 포함한 정밀 파형 보정 애플리케이션에 사용할 수 있습니다.
- 광학적 스펙트럼 분석기의 보정입니다.
- 광학적 앰프 테스트 시스템을 위한 DFB 레이저를 보정합니다.
- 패시브 구성 요소 테스트 시스템을 위한 조정 가능한 레이저를 보정합니다.
레이저 / 광 트랜시버
레이저 장치, 레이저 모듈 및 광 트랜스시버와 같은 WDM 전송 시스템에 사용되는 광학 구성 요소도 테스트하려면 높은 파장의 정확도가 필요합니다. 이러한 애플리케이션에는 다음이 포함될 수 있습니다.
- 조정 가능한 레이저의 정확한 조정 및 검사를 실시합니다.
- 광학적 트랜스시버 및 트랜스폰더의 신호 측정을 변조했습니다.
- WDM 기술로 40G 및 100G 광 트랜스시버의 모든 채널을 측정합니다.
인터페이스
측정 원리
Michelson 간섭계
고정 미러와 이동식 미러 사이의 광 경로 길이 차이를 변경하여 간섭을 생성합니다. 그런 다음 광학 수신기를 사용하여 간섭 신호를 감지합니다.고속 퓨리에 변환 (FFT)
간섭 신호(interferogram)를 광 스펙트럼 파형으로 변환합니다.고속 데이터 처리
지정된 광 스펙트럼 파형을 분석합니다.그런 다음 입력 신호의 파장과 전력 데이터를 출력합니다.
실시간 파장 보정
입력 신호를 측정하는 동안 기준 파장의 간섭 신호를 동시에 측정하여 측정 오류를 수정합니다.| 모델 | 설명 |
|---|---|
| AQ6150B | AQ6150B Optical Wavelength Meter |
| AQ6151B | AQ6151B Optical Wavelength Meter |
