특징

[라인업 & 특성‧기능 비교]

[폭넓은 측정 주파수 범위와 고분해능 설정]

ZM2371/ZM2372는 1mHz ~ 100kHz, ZM2376은 1mHz ~ 5.5mHz의 주파수 범위를 커버하며 5자리/6자리 분해능※을 설정할 수 있기 때문에 각종 부품을 실제 사용하는 주파수에서 측정할 수 있을 뿐만 아니라 파라미터의 주파수 특성 평가도 가능합니다.
※ZM2371/ZM2372 : 5자리, ZM2376 : 6자리

[고속측정]

측정 시간은 RAP(Rapid), FAST, MED(Medium), SLOW, VSLO(Very Slow)의 5단계로 전환 가능합니다.
RAP를 선택하면 2ms(1kHz/1MHz), 10ms(120Hz)의 고속 측정을 할 수 있어 생상라인이나 자동검사라인에서 측정효율을 향상시키는데 기여합니다.

[DC 바이어스용 전원 내장 최대 5V]

ZM2371,ZM2372모델은 2.5V까지 ZM2376은 5V까지 DC 바이어스를 걸 수 있습니다. 전해 콘덴서나 리튬이온전지(단셀)의 임피던스 측정도 가능하며 옵션인 DC전압 바이어스 어답터 ※ 를 연결하면 ±40V까지 바이어스 전압을 인가할 수 있습니다.

※ZM2376제외

[폭넓은 측정 레벨과 ALC기능]

10mVrms ~ 5Vrms / 1µArms ~ 200mArms의 측정 신호값을 3자리 분해능으로 설정 할 수 있습니다. 또한 ALC(Auto Level Control)기능으로 정전압/정전류 구동을 설정할 수 있기 때문에 시료의 전압/전류 용량을 고려한 안정되고 재형성이 높은 측정이 가능합니다.

[고정밀도]

기본 확도는 008%, 표시 분해능 최대 6자리의 고정밀도, 고분해능을 가지고 있어 최첨단 장비 개발부터 검사 라인의 부품 선별에 이르기까지 어느 곳에서나 사용 가능합니다.

[직류저항 측정]

코일이나 트랜스의 권선저항의 직류저항 측정도 가능합니다. 주파라메터를 인덕턴스로 하고 부파라메터를 직류ㅍ저항으로 설정하면 동시에 인덕턴스와 저항값을 확인할 수 있습니다.

[편차표시]

측정하는 부품에 표시되어 있는 값을 본체에 미리 설정하면 설정된 값과 측정된 값과의 편차와 편차%를 표시해 줍니다. 부품의 허용오차 관련 합불판정이나 온도특성시험등에서 유용합니다.

[멀티측정]

멀티 측정은 1개의 시료를 최대 32가지 스텝의 측정조건으로 측정한 후 합불판정을 하는 기능입니다. 스텝마다 측정주파수, 측정신호레벨, 내부DC바이어스, 측정파라메터 등의 여러가지 조건을 설정하고 주파라메터의 상‧하한값, 부파라메터 상‧하한값에 대한 측정 및 리미트 판정을 합니다.

[컨택트 체크 기능]

ZM2372 4 단자 콘택트 체크

측정 선단부와 부품 간의 접촉 불량으로 인한 오측정이나 오선별을 방지하기 위해 ZM2372에서는 4개의 측정 단자로 콘택트를 점검하여 불량을 판정합니다. 이 방법으로 불량품 유출을 배제차단합니다. (콘택트 체크로 인한 추가 시간 4ms)

ZM2376 콘택트 체크・저용량 체크

비정상적인 저용량이나 전압・전류의 이상을 감지하며, 거의 추가 시간 없이 콘택트의 불량을 검출합니다.

[편차가 적고 재현성이 높은 측정 예]

ZM2372와 ZM2376을 사용하여 하기 조건에서 10µF과 1nF의 콘덴서를 200회 반복 측정한 결과입니다.
ZM2376의 경우 측정 재현성이 더욱 향상 되었습니다.

10μF 콘덴서 측정

• 측정 시간: 10ms
• 측정 주파수: 120Hz
• 측정 신호 레벨: 1V

1nF 콘덴서 측정

• 측정 시간: 5ms
• 측정 주파수: 100Hz
• 측정 신호 레벨: 1V

Accessories

[범용부품]

4단자 측정이 가능한 테스트 리드선, 낮은 임피던스까지 정확하게 측정합니다.

[칩부품]

2단자 접속으로 표면 질장 부품을 측정하는 테스트 픽스처입니다. 케이블을 사용하지 않기때문에 부유용량과 잔류 임피던스가 적어 정확한 오픈보정, 쇼트 보정이 가능합니다.

측정 콘택트를 실드한 3단자 구조의 칩부품용 테스트리드입니다. 부유용량이 적어 소용량 커패시터 측정에 용이합니다.

사양

크기

ZM2371/ZM2372

ZM2376